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大暑酷熱難耐?別怕,光纖光譜儀正“看透”陽光下的秘密!
大暑酷熱難耐?別怕,光纖光譜儀正“看透”陽光下的秘密!
大暑時節(jié),驕陽似火,蟬鳴聒噪。這是一年中較熱、光照較強的時節(jié)。當(dāng)我們在空調(diào)房里躲避酷暑時,你是否想過,這至極的陽光和高溫,對于光伏發(fā)電站和戶外材料來說,意味著什么?又該如何精細把握它們的狀態(tài),優(yōu)化性能,延長壽命?答案,就藏在光的秘密里,而解讀這秘密的關(guān)鍵鑰匙,正是光纖光譜儀!
01大暑下的挑戰(zhàn):光伏“中暑”?材料“衰老”加速!
大暑節(jié)氣,太陽直射北半球,太陽輻照度達到年度峰值,尤其是對發(fā)電有力的可見光和近紅外光能量充沛。同時,環(huán)境溫度也飆升比較高。這對兩大領(lǐng)域提出了嚴峻挑戰(zhàn):
光伏發(fā)電系統(tǒng)“效率焦慮”
· 高溫“中暑”效應(yīng):太陽能電池板有個“怪脾氣”——溫度越高,發(fā)電效率反而越低!大暑高溫可能導(dǎo)致組件功率輸出明顯下降(效率損失可達10-20%)。
· 光譜“挑食”影響:不同材質(zhì)的電池(硅基、薄膜等)對不同波長的光響應(yīng)不同。大暑時強烈的太陽光,其光譜成分(各波段能量分布) 也直接影響著實際發(fā)電量。
· “灰塵面膜”困擾:高溫干燥易揚塵,灰塵覆蓋電池板表面,如同蒙上了“面膜”,阻擋光線,嚴重降低發(fā)電效率。
戶外材料“衰老危機”
· 光化學(xué)“刺客”:大暑期間強烈的紫外線(UV)輻射是材料老化的頭號元兇,它能破壞高分子材料的化學(xué)鍵。
· 高溫“催化”降解: 高溫如同催化劑,加速了紫外線引發(fā)的氧化、水解等老化反應(yīng)。
· 濕度“助攻”: 伴隨高溫的往往是高濕度(尤其南方),濕熱協(xié)同作用進一步加速材料性能劣化。涂料褪色、塑料脆化、建材風(fēng)化…都可能在酷暑中悄然加劇。
如何精細監(jiān)測、量化評估、及時預(yù)警這些變化,成為保障光伏電站收益和材料耐久性的關(guān)鍵!

02揭秘利器:光纖光譜儀——捕捉“光”的指紋
要應(yīng)對上述挑戰(zhàn),我們需要一雙能“看見”光本質(zhì)的眼睛。這就是光纖光譜儀!它像一位敏銳的“光譜探員”:

萊森光學(xué)ConstSpec?系列高穩(wěn)定性光譜儀
關(guān)鍵能力
將復(fù)雜的光信號分解成不同波長的“彩虹”(光譜),并精確測量每個波長點的光強度。
獨特優(yōu)勢
· 靈活便攜:通過光纖探頭,輕松將光信號從難以到達的地方(如光伏板表面、材料樣品測試點、狹小空間)引導(dǎo)到光譜儀主機進行分析。
· 實時在線:可進行連續(xù)、實時的光譜監(jiān)測,捕捉動態(tài)變化。
· 非接觸無損:對被測物體無損傷,非常適合現(xiàn)場檢測和研究。
· 波段范圍廣:覆蓋紫外(UV)、可見光(VIS)、近紅外(NIR)甚至短波紅外(SWIR)波段,滿足多種應(yīng)用需求。
03光纖光譜儀如何賦能大暑挑戰(zhàn)?光伏發(fā)電系統(tǒng)性能評估與優(yōu)化
· 精細測量太陽光譜輻照度:光纖光譜儀(搭配余弦校正器)直接測量到達光伏板表面的真實太陽光譜。
· 組件溫度分布間接監(jiān)測 (結(jié)合熱特性):雖然光纖光譜儀本身不測溫,但通過分析特定波長(如近紅外)的反射/吸收變化(受溫度影響),可輔助判斷組件工作狀態(tài)。
· 污染/積塵檢測:干凈和臟污的光伏板表面反射光譜不同。光纖光譜儀通過探頭測量板面反射光譜,與清潔狀態(tài)基準對比,定量評估積塵程度,科學(xué)指導(dǎo)清洗時機,較大化發(fā)電收益。

材料老化研究與監(jiān)測
· 捕捉老化早期信號:
1. 顏色/外觀變化:測量材料反射光譜或透射光譜。老化常導(dǎo)致特定波長反射/透射率改變(如黃變導(dǎo)致藍光反射降低),比肉眼更早、更定量地發(fā)現(xiàn)褪色、變黃、失光等。
2. 化學(xué)成分變化:特定材料的化學(xué)鍵在紫外/可見/近紅外光譜區(qū)有特征吸收峰。老化過程(如氧化、斷鏈)會改變這些吸收峰的位置和強度。光纖光譜儀可監(jiān)測這些細微變化,揭示老化的化學(xué)本質(zhì)。
· 大暑——天然加速老化實驗室:
1. 將材料樣品(涂料樣板、塑料片、建筑材料切片等)置于大暑的極端光、熱、濕環(huán)境下。
2. 使用光纖光譜儀定期或連續(xù)監(jiān)測其光譜特征變化。
意義:快速評估材料耐候性、比較不同配方/工藝的抗老化能力、驗證防護涂層(如UV吸收劑)的有效性及失效過程,為產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。
04萊森光學(xué):您應(yīng)對“大暑挑戰(zhàn)”的光譜伙伴
面對大暑帶來的光伏效率與材料老化挑戰(zhàn),萊森光學(xué)提供專業(yè)的光纖光譜儀解決方案,助您精細洞察,優(yōu)化決策!
輻射測量
可以利用鏡頭/余弦探頭進行光采集,進行待測物品的輻射亮度,光譜輻射亮度,發(fā)光強度,光亮度等與接收角度有關(guān)的輻射參數(shù)測量。

輻射亮度采集示意圖

輻照度測量連接示意圖
輻射通量測量連接示意圖
透過率測量

輻照度測量連接示意圖

反射率測量

反射率測量(探頭)連接示意圖
反射率測量(積分球)連接示意圖
結(jié)語
大暑的酷熱與強光,是挑戰(zhàn),也是天然的測試場和觀察窗。利用光纖光譜儀這把解讀光信息的“金鑰匙”,我們能夠:
· 看透光伏系統(tǒng)在極端條件下的真實性能,精細診斷效率損失根源,優(yōu)化運維策略,保障綠色能源的較大產(chǎn)出。
· 捕捉材料在嚴苛環(huán)境中的細微老化痕跡,加速研發(fā)更耐候的產(chǎn)品,延長戶外設(shè)施和產(chǎn)品的使用壽命。
讓萊森光學(xué)的光纖光譜儀,成為您應(yīng)對高溫挑戰(zhàn)、提升光伏效率、守護材料耐久的“光譜慧眼”!抓住大暑“熱”點,洞察光之奧秘,優(yōu)化產(chǎn)業(yè)未來!
產(chǎn)品推薦
PRODUCT1星座系列丨ConstSpec?系列高穩(wěn)定性光譜儀
ConstSpec系列光譜儀提供高穩(wěn)定性光譜分析解決方案。ConstSpec-Mini400采用緊湊設(shè)計,適合系統(tǒng)集成與手持應(yīng)用;ConstSpec-HR400覆蓋200-1100nm波段,具備高速測量與消雜散光技術(shù),適用于紫外/熒光檢測;ConstSpec-NIR400專注900-1700nm近紅外,搭載InGaAs探測器,滿足成分分析需求。全系列產(chǎn)品兼具光學(xué)分辨率高(0.5-14nm)、波長精度≤0.5nm、雜散光<0.1%等特性,通過緊湊結(jié)構(gòu)實現(xiàn)便捷安裝維護,在生產(chǎn)線監(jiān)測、質(zhì)量控制和環(huán)境監(jiān)測領(lǐng)域,以高性價比與出色穩(wěn)定性保障精細數(shù)據(jù)輸出。

LISEN OPTICS2木星系列丨LiSpec?-HR系列高分辨率光譜儀
LiSpec-HR系列高分辨率光譜儀是萊森光學(xué)(LiSen Optics)光譜儀系列中一款新高分辨率光譜儀明星產(chǎn)品, 采用了2048/4096像元CMOS探測器,其獨有的大焦距光學(xué)平臺設(shè)計,使得信噪比更高,速度更快,可靠性穩(wěn)定性好,更適合于高分辨率光譜波長的檢測,同時結(jié)構(gòu)緊湊、具有雜散光低及良好的熱穩(wěn)定性,短積分時間可達50μs高速測量,抗干擾性能強。可以應(yīng)用于激光和LED等光源波長的表征,等離子氣體放電、LIBS激光誘導(dǎo)、原子發(fā)射元素光譜測量等方面。

LISEN OPTICS3水星系列丨LiSpec?-HS系列高靈敏度光譜儀
LiSpec-HS系列高靈敏度光譜儀采用2048像素BT-CCD探測器,成功融合紫外-可見-近紅外(200-1100nm)高量子效率與高速測量。其獨有消雜散光技術(shù)、降噪電路及高性能探測器明顯提升靈敏度與信噪比,適用于紫外輻射、熒光及透反射測量。優(yōu)化的光路設(shè)計確保透反射數(shù)據(jù)精度接近大型分光光度計,支持低噪聲電路、低抖動觸發(fā),并可靈活搭配反射探頭、積分球、光源等附件實現(xiàn)多場景應(yīng)用。通過更換狹縫和光柵可調(diào)節(jié)波長范圍與分辨率,支持多種觸發(fā)模式、二次開發(fā)及定制服務(wù)。

LISEN OPTICS4火星系列丨LiSpec?-HSR-TEC系列制冷型高性能光譜儀
LiSpec-HSR-TEC科研級熱電制冷光譜儀采用2048像素制冷型BT-CCD探測器(24μm大像元)與TE制冷裝置,結(jié)合低噪聲電路控制技術(shù),實現(xiàn)極低暗噪聲與高信噪比。其大焦距C-T光學(xué)平臺及雜散光光阱技術(shù)明顯提升靈敏度與熱穩(wěn)定性,專精于紫外輻射、拉曼、熒光等微弱信號檢測。支持靈活配置光柵刻線數(shù)、可更換狹縫及消二級衍射濾光片,用戶可自主調(diào)節(jié)波長范圍與分辨率,滿足高精度科研級光譜測量需求。

LISEN OPTICS5土星系列丨LiSpec?-NIR系列近紅外光譜儀
LiSpec-NIR系列近紅外光譜儀提供非制冷型與制冷型兩款。非制冷型采用128/256像素InGaAs探測器,具備高靈敏度與信噪比,短積分時間6μs;制冷型配備256/512像素半導(dǎo)體制冷InGaAs探測器,明顯提升靈敏度與信噪比,支持100μs高速測量。兩者均采用大數(shù)值孔徑光學(xué)平臺、低噪聲電路及可更換狹縫設(shè)計,實現(xiàn)靈活分辨率調(diào)節(jié)。緊湊結(jié)構(gòu)兼具優(yōu)異熱穩(wěn)定性與低雜散光特性,普遍適用于食品糖分檢測、油料分析、制藥監(jiān)測及工業(yè)過程控制等領(lǐng)域。

非制冷型近紅外光譜儀

制冷型近紅外光譜儀
LISEN OPTICS6LiSpec?-UVIR系列寬光譜紫外可見近紅外光譜儀
LiSpec-UVIR寬光譜光譜儀變革性實現(xiàn)200-2500nm全波段測量,采用雙探測器架構(gòu):2048像素CMOS/BT-CCD覆蓋200-1000nm(紫外可見量子效率達85%),制冷型InGaAs探測器覆蓋900-2500nm。自創(chuàng)熱像素漂移校準技術(shù)有效抑制紅外熱干擾,確保數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。通過微處理技術(shù)實現(xiàn)雙通道同步測量,支持靈活配置鹵燈光源、積分球、余弦輻射探頭等附件,滿足透反射測量、輻射通量/亮度/照度等精細檢測需求,適用于嚴苛科研與工業(yè)場景。

